持續(xù)測試和自定義測試程序

敏創(chuàng)電子的測試程序致力于不斷改進我們的溫度傳感設備的設計和功能。對于所有批次的熱敏電阻，測試標稱值，附著力和曲線特性。此信息將添加到我們的SPC（統(tǒng)計過程控制）數(shù)據(jù)庫中。該數(shù)據(jù)庫包含來自敏創(chuàng)電子生產(chǎn)的第一批熱敏電阻的信息。

 

除了通過比較溫度特性和電阻特性進行粘附和性能測試外，我們還在各種環(huán)境，物理和電氣惡劣條件下進行可靠性測試。下面概述了對敏創(chuàng)電子生產(chǎn)的熱敏電阻進行的一些測試。

 

加速壽命測試（ALT）

將熱敏電阻組安裝在PCB上，并將其暴露在腐蝕性環(huán)境中10天。在該測試中，設備暴露于高濃度的CO 2，SO 2和H 2 S，以促進在高腐蝕性環(huán)境中的產(chǎn)品故障。由于敏創(chuàng)電子開發(fā)的制造技術，熱敏電阻已成功通過該測試。

 

鹽水試驗

對于熱敏電阻組，浸入淡水和鹽水并暴露于溫度循環(huán)。鹽水和淡水浴在0°C和65°C的溫度下制備。最小化溫度（小于10秒）之間的這種轉(zhuǎn)換并創(chuàng)建最大過渡狀態(tài)。在測試結(jié)束時，耐溫特性必須在公差范圍內(nèi)。還測試了器件的絕緣電阻。

 

熱沖擊：200次循環(huán)

熱敏電阻將在80°C下轉(zhuǎn)換30分鐘，然后在10秒內(nèi)轉(zhuǎn)換并在-40°C下暴露30分鐘。該測試通常接著進行100,000次熱沖擊測試。

 

熱沖擊：100,000次循環(huán)

該測試包括在20℃下45秒和在-20℃下45秒。兩個溫度之間的過渡最小化至小于10秒，從而形成最大過渡狀態(tài)。熱敏電阻必須在測試結(jié)束時的公差范圍內(nèi)。